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產(chǎn)品詳細(xì)說(shuō)明
日本Takano PV Wafer/Cell裂紋檢測(cè)系統(tǒng)
該設(shè)備使用激光束快速檢查太陽(yáng)能電池（PV、光伏）晶片和電池片上和內(nèi)部的裂紋。它還可以在不受晶界圖案干擾的情況下檢測(cè)多晶硅。這種獨(dú)特的檢測(cè)系統(tǒng)將成為裂紋趨勢(shì)控制、良率提升等工藝控制項(xiàng)目不可替代的設(shè)備。
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