KLA 納米壓痕儀NanoFlip系列

 　　NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準確、精密地進行硬度、模量、屈服強度、剛度和其它納米力學性能的測試。無論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)中，NanoFlip均可出色完成微柱壓縮等測試，并將SEM圖像與力學測試數據同步。NanoFlip是*款緊湊、靈活的原位納米力學測試儀，其測試速度快，這對于在惰性條件下（例如手套箱中）測試非均質材料至關重要。基于InForce 50電磁力作動器等多種可用功能選項，可獲取定量結果，為材料研究提供有價值的解決方案。