全新革命性的垂直同步雙觀測(cè)(DSOI)技術(shù),使傳統(tǒng)的徑向等離子體觀測(cè)儀器的靈敏度提高了數(shù)倍。
TI技術(shù)帶來(lái)的高靈敏度,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)痕量元素進(jìn)行測(cè)量,即使在充滿挑戰(zhàn)性的環(huán)境基體也能確保準(zhǔn)確度,避免基體干擾。
新推出的GigE讀出系統(tǒng),能夠在不到100毫秒的時(shí)間內(nèi)收集、傳輸光譜及數(shù)據(jù),從而加快分析速度,縮短了樣品切換的時(shí)間,使單位時(shí)間內(nèi)的樣品分析數(shù)量大大增加。
靈敏及響應(yīng)快速的LDMOS發(fā)生器,不需要外部冷卻:具有分析高重的復(fù)雜基體的能力 -- 而無(wú)需稀釋樣品 – 儀器開(kāi)機(jī)速度快(約10分鐘)-- 生產(chǎn)率高
全新New SPECTRO ICP Analyzer Pro 操作軟件采用了簡(jiǎn)單直觀的界面,易于使用