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KLA 納米壓痕儀InSEM HT系列

KLA 納米壓痕儀InSEM HT系列
　　InSEM HT（高溫）通過在真空環境下獨立加熱壓頭和樣品測量高溫下的硬度、模量和剛度。InSEM HT與掃描電子顯微鏡 (SEM) 及聚
2025-06-06 14:25 [美國]
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KLA 納米壓痕儀iNano系列

KLA 納米壓痕儀iNano系列
　　iNano納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準確、靈活、用戶友好的儀器可以進行多樣的納米材料力學測試，包
2025-06-06 14:25 [美國]
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KLA 納米壓痕儀Nano Indenter G200系列

KLA 納米壓痕儀Nano Indenter G200系列
　　納米壓痕儀G200是設計用于各種小尺寸材料的力學性能表征和開發過程中進行納米力學測量的系統。壓痕測試系統是*個模塊化的完
2025-06-06 14:25 [美國]
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KLA 光學輪廓儀Zeta-388系列

KLA 光學輪廓儀Zeta-388系列
　　Zeta-388提供3D量測和成像功能，與集成防震臺和晶圓操作系統結合，可實現全自動測量。該系統采用ZDot? 技術，可同時收集高分
2025-06-06 14:24 [美國]
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KLA 光學輪廓儀Zeta-20系列

KLA 光學輪廓儀Zeta-20系列
　　Zeta-20是*個高度集成的光學輪廓顯微鏡，可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot? 技術，可同時收集高
2025-06-06 14:21 [美國]
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KLA 探針式輪廓儀HRP -260系列

KLA 探針式輪廓儀HRP -260系列
　　HRP -260 是*個高分辨率、自動化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺階高度測量功能。P-260支持臺階高度、粗糙度、翹
2025-06-06 14:21 [美國]
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KLA 探針式輪廓儀D-500系列

KLA 探針式輪廓儀D-500系列
　　Alpha-Step D-500探針式輪廓儀能夠測量幾納米到1200微米高的2D臺階。D-500也支持在研發和生產環節中對粗糙度、彎曲度和應力
2025-06-06 14:19 [美國]
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KLA 探針式輪廓儀Tencor P-7系列

KLA 探針式輪廓儀Tencor P-7系列
　　Tencor P-7探針式輪廓儀為生產和研發(RD)環節提供了從幾納米到*毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹
2025-06-06 14:19 [美國]
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KLA 表面缺陷檢測系統Candela 8720系列

KLA 表面缺陷檢測系統Candela 8720系列
　　Candela 8720*進的集成式表面和光致發光(PL)缺陷檢測系統可以捕獲各種關鍵襯底和外延缺陷。采用統計制程控制(SPC)的方法來進
2025-06-06 14:18 [美國]
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KLA 微納拉伸試驗機T150 UTM系列

KLA 微納拉伸試驗機T150 UTM系列
　　T150 UTM 微納拉伸試驗機可以測量對應變速率敏感的材料的時變響應。它采用電磁作動器產生拉力（樣品上的載荷），并采用高精
2025-06-06 14:17 [美國]
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KLA 納米壓痕儀NanoFlip系列

KLA 納米壓痕儀NanoFlip系列
　　NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準確、精密地進行硬度、模量、屈服強度、剛度和其它納米力學性能的測試。無論在掃
2025-06-06 14:16 [美國]
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KLA 納米壓痕儀Nano Indenter G200X系列

KLA 納米壓痕儀Nano Indenter G200X系列
　　Nano Indenter G200X是*種易于使用的納米*力學測試工具，可快速提供精確的定量分析結果。G200X系統可處理從硬質涂層到軟質聚
2025-06-06 14:16 [美國]
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KLA 納米壓痕儀iMicro系列

KLA 納米壓痕儀iMicro系列
　　iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬質涂層、薄膜和小尺寸材料等。其準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度測試、劃痕和納
2025-06-06 14:16 [美國]
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KLA 光學輪廓儀Zeta-300系列

KLA 光學輪廓儀Zeta-300系列
　　Zeta-300 可提供3D 量測和成像功能，與集成式防震臺和靈活的配置相結合，可以處理更大的樣品。該系統采用ZDot? 技術，可同時
2025-06-06 14:14 [美國]
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KLA 光學輪廓儀Profilm3D系列

KLA 光學輪廓儀Profilm3D系列
　　Profilm3D?和 Profilm3D-200 光學輪廓儀經濟實惠，是*套非接觸式基于白光干涉法的3D表面形貌測量系統。*新*代的白光干涉儀擁
2025-06-06 14:14 [美國]
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KLA 探針式輪廓儀Tencor P-170系列

KLA 探針式輪廓儀Tencor P-170系列
　　Tencor P-170是*款自動化輪廓儀，可為生產環節提供從幾納米到*毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲
2025-06-06 14:13 [美國]
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KLA 探針式輪廓儀Tencor P-17 OF系列

KLA 探針式輪廓儀Tencor P-17 OF系列
　　P-17探針式輪廓儀為生產和研發(RD)環節提供從幾納米到*毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應
2025-06-06 14:06 [美國]
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KLA 探針式輪廓儀D-600系列

KLA 探針式輪廓儀D-600系列
　　Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測量，以及用于研
2025-06-06 14:06 [美國]
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jfw 機架衰減器組件19 英寸系列

jfw 機架衰減器組件19 英寸系列
2025-06-06 11:24 [美國]
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jfw 臺式衰減器組件（50 歐姆）系列

jfw 臺式衰減器組件（50 歐姆）系列
2025-06-06 11:23 [美國]
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