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KLA 表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)Candela 8520系列
　　Candela 8520*二代集成式光致發(fā)光和表面檢測(cè)系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于對(duì)碳化硅和氮化鎵襯底上的外延缺陷進(jìn)行高*表征。采用統(tǒng)計(jì)制程控制
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)Candela 8720系列
　　Candela 8720*進(jìn)的集成式表面和光致發(fā)光(PL)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可以捕獲各種關(guān)鍵襯底和外延缺陷。采用統(tǒng)計(jì)制程控制(SPC)的方法來(lái)進(jìn)
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)Candela 8420系列
　　Candela 8420是*種表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，它使用多通道檢測(cè)和基于規(guī)則的缺陷分類，對(duì)不透明、半透明和透明晶圓(如砷化鎵、磷化銦
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 微納拉伸試驗(yàn)機(jī)T150 UTM系列
　　T150 UTM 微納拉伸試驗(yàn)機(jī)可以測(cè)量對(duì)應(yīng)變速率敏感的材料的時(shí)變響應(yīng)。它采用電磁作動(dòng)器產(chǎn)生拉力（樣品上的載荷），并采用高精
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 納米壓痕儀InSEM HT系列
　　InSEM HT（高溫）通過(guò)在真空環(huán)境下獨(dú)立加熱壓頭和樣品測(cè)量高溫下的硬度、模量和剛度。InSEM HT與掃描電子顯微鏡 (SEM) 及聚
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 納米壓痕儀NanoFlip系列
　　NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準(zhǔn)確、精密地進(jìn)行硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其它納米力學(xué)性能的測(cè)試。無(wú)論在掃
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 納米壓痕儀iNano系列
　　iNano納米壓痕儀使測(cè)量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡(jiǎn)單。準(zhǔn)確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測(cè)試，包
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 納米壓痕儀Nano Indenter G200X系列
　　Nano Indenter G200X是*種易于使用的納米*力學(xué)測(cè)試工具，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)涂層到軟質(zhì)聚
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 納米壓痕儀Nano Indenter G200系列
　　納米壓痕儀G200是設(shè)計(jì)用于各種小尺寸材料的力學(xué)性能表征和開(kāi)發(fā)過(guò)程中進(jìn)行納米力學(xué)測(cè)量的系統(tǒng)。壓痕測(cè)試系統(tǒng)是*個(gè)模塊化的完
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 納米壓痕儀iMicro系列
　　iMicro納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬質(zhì)涂層、薄膜和小尺寸材料等。其準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度測(cè)試、劃痕和納
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 光學(xué)輪廓儀Zeta-388系列
　　Zeta-388提供3D量測(cè)和成像功能，與集成防震臺(tái)和晶圓操作系統(tǒng)結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot? 技術(shù)，可同時(shí)收集高分
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 光學(xué)輪廓儀Zeta-300系列
　　Zeta-300 可提供3D 量測(cè)和成像功能，與集成式防震臺(tái)和靈活的配置相結(jié)合，可以處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot? 技術(shù)，可同時(shí)
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 光學(xué)輪廓儀Zeta-20系列
　　Zeta-20是*個(gè)高度集成的光學(xué)輪廓顯微鏡，可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot? 技術(shù)，可同時(shí)收集高
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 光學(xué)輪廓儀Profilm3D系列
　　Profilm3D?和 Profilm3D-200 光學(xué)輪廓儀經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，是*套非接觸式基于白光干涉法的3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。*新*代的白光干涉儀擁
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 探針式輪廓儀HRP -260系列
　　HRP -260 是*個(gè)高分辨率、自動(dòng)化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。P-260支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 探針式輪廓儀Tencor P-170系列
　　Tencor P-170是*款自動(dòng)化輪廓儀，可為生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供從幾納米到*毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 探針式輪廓儀D-500系列
　　Alpha-Step D-500探針式輪廓儀能夠測(cè)量幾納米到1200微米高的2D臺(tái)階。D-500也支持在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)中對(duì)粗糙度、彎曲度和應(yīng)力
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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KLA 探針式輪廓儀Tencor P-17 OF系列
　　P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)(RD)環(huán)節(jié)提供從幾納米到*毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)
2025-07-04 17:25 [美國(guó)]
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APR 可調(diào)節(jié)彎頭接頭680000系列
2025-07-04 17:36 [美國(guó)]
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APR 蝎子專用升降機(jī)軌道680003系列
2025-07-04 17:36 [美國(guó)]
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